武汉沐普科技SLD(SLED)宽带光源涵盖了800-1650nm波长范围内不同波长区间的要求,典型中心波长包括:840nm、1060nm、1310nm、1550nm等,输出功率和谱宽具有非常大的选择空间。另外公司还可以根据客户的要求提供低偏振度的SLD光源,满足客户不同应用领域的要求。
SLD 光源内部结构。其由 SLD 管芯、热敏电阻、热 沉、半导体制冷器(TEC)、尾纤、外壳等部 件组成。TEC 用来控制和稳定光源的管芯温度, 热敏电阻用来敏感光源管芯温度的变化,热沉 导热系数大,用于散热。量l子阱 SLD 管芯在正向注入电流的作用 下,来自 p 层的空穴和来自 n 层的电子在发光 层中结合发射出光子,这种自发辐射的光子在给定腔内传播过程中经过受激放大而产生激 光,从而使光谱和发散角变窄,调制带宽增大l。SLD 光源组件工作原理是:在注入电流的驱动 下,SLD 工作中产生的热量通过热沉导出去,为使输出光功率和波长的稳定,通过 TEC 进行 温度控制。管芯输出的光波则通过尾纤耦合输出,通过对光纤进行金属化,以通过金属焊接固定光纤和芯片之间的相对位置,保证输出光功率的稳定。SLD 输出功率的大小将影响 FOG 中光探测器的输出信噪比。
光学相干层析成像系统结合了低相干干涉和共焦显微测量的特点。系统选用的光源为宽带光源,常用的是超辐射发光二极管(SLD)。光源发出的光经2×2耦合器分别通过样品臂和参考臂照射到样品和参考镜,两个光路中的反射光在耦合器中汇合,而两臂光程差只有在一个相干长度内才能发生干涉信号。同时由于系统的样品臂是一个共焦显微镜系统,探测光束焦点处返回的光束具有的信号,可以排除焦点外的样品散射光的影响,这是OCT可以成像的原因之一。把干涉信号输出到探测器,信号的强度对应样品的反射强度,经过解调电路的处理,后由采集卡采集到计算机进行灰度成像。